Bruker D8 Advance In-situ XRD

创建时间:  2021/05/20  邹秀晶   浏览次数:   返回


仪器介绍

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了Bragg–Brentano聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GIDXRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换。高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度。最新的LYNXEYE XE能量分辨阵列探测器可以提高强度150倍,大幅度提高了设备的使用效率和探测的灵敏度。

技术指标

Theta/theta立式测角仪

2Theta角度范围:2~168°

角度精度:0.0001°

Cu靶标准尺寸光管

探测器:LYNXEYE XE阵列探测器

仪器尺寸:1868x1300x1135mm

重量:770kg

功率:3kW


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